DIATEST塞規(guī)式測量頭是基于比較法進行測量的。在使用前，需根據被測工件的預期尺寸制造一個相應精度的標準環(huán)規(guī)(或校對環(huán)規(guī))。將測頭放入該環(huán)規(guī)中設定基準值，之后再把測頭置入實際要檢測的孔徑內，即可直接讀出偏差數據；采用鍍硬鉻導向圓柱體與校對環(huán)規(guī)配合實現準確定位，有效解決了孔徑測量中的對中難題。
 

　　這種設計確保了每次測量時測點都能準確對準被測孔的中心軸線，從而提升了重復性和一致性；當測頭的碳鋼測點接觸被測表面并發(fā)生徑向移動時，位移會以1:1的比例實時傳遞至顯示單元。同時，內置彈性體提供恒定的測力，范圍控制在0.5-1N之間，既保證了接觸的穩(wěn)定性，又消除了人為操作力度不均帶來的誤差干擾。
 

　　系統(tǒng)提供豐富的可選型號及配件，可根據具體應用場景選擇合適的測頭類型，如盲孔專用測頭或標準測頭等，滿足多樣化的工業(yè)需求；整體采用高強度材料制造，結合科學的力學分布設計，確保長期使用下仍能保持穩(wěn)定性能，降低維護成本。
 

　　DIATEST塞規(guī)式測量頭的測定步驟：
 

　　1.預估孔的尺寸：這一步驟可以有效預估孔的大致范圍，為后續(xù)準確測量做準備。
 

　　2.逐步試裝塞規(guī)：從找到的可能適合的塞規(guī)開始，如果能順利插入被測孔內，則繼續(xù)嘗試裝入大一規(guī)格的塞規(guī)；重復此過程，直到某一規(guī)格的塞規(guī)無法裝入為止。通過這種方式能夠較為準確地確定孔的實際尺寸。